该测试座为Wells-CTI生产;用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 封装:QFN48 0.4pitch(With GND PAD) 查看详细信息 >>
封装/规格:套 相关数据手册
该测试座为Wells-CTI生产;用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 封装:QFN40 0.4pitch 查看详细信息 >>
该测试座为Wells-CTI生产;用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 封装:QFN32 0.4pitch(With GND PAD) 查看详细信息 >>
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该测试座为Wells-CTI生产;用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 封装:QFN36 0.4pitch(With GND PAD) 查看详细信息 >>
该测试座为Wells-CTI生产;用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 封装:QFN36 0.4pitch 查看详细信息 >>
该测试座为Wells-CTI生产;用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 封装:QFN20 0.4pitch(With GND PAD) 查看详细信息 >>
该测试座为Wells-CTI生产;用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 封装:QFN20 0.4pitch 查看详细信息 >>
该测试座为Wells-CTI生产;用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 封装:QFN48 0.5pitch(With GND PAD) 查看详细信息 >>
该测试座为Wells-CTI生产;用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 封装:QFN48 0.5pitch 查看详细信息 >>
该测试座为Wells-CTI生产;用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 封装:QFN40 0.5pitch(With GND PAD) 查看详细信息 >>
该测试座为Wells-CTI生产;用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 封装:QFN40 0.5pitch 查看详细信息 >>
该测试座为Wells-CTI生产;用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 封装:QFN32 0.5pitch(With GND PAD) 查看详细信息 >>
该测试座为Wells-CTI生产;用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 封装:QFN32 0.5pitch 查看详细信息 >>
该测试座为Wells-CTI生产;用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 封装:QFN24 0.5pitch(With GND PAD) 查看详细信息 >>
该测试座为Wells-CTI生产;用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 封装:QFN24 0.5pitch 查看详细信息 >>
该测试座为Wells-CTI生产;用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 封装:QFN16 0.5pitch(With GND PAD) 查看详细信息 >>
该测试座为Wells-CTI生产;用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 封装:QFN16 0.5pitch 查看详细信息 >>