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产品名称 |
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封装/规格 |
产品描述 |
RoHS |
含税单价(元) |
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测试座 |
777E1137H101C |
Wells-CTI |
BGA137 0.8pitch 11*13mm |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
￥505.44 |
26~100套: |
￥470.92 |
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套
可订货：订货周期21天
可订量：5～100
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测试座 |
777E1115H203C |
Wells-CTI |
BGA115 0.8pitch 9*12mm |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
￥491.40 |
26~100套: |
￥457.47 |
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套
可订货：订货周期21天
可订量：5～100
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测试座 |
777E1080H112C |
Wells-CTI |
BGA80 0.8pitch 8*11.6mm |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
￥449.28 |
26~100套: |
￥417.10 |
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套
可订货：订货周期21天
可订量：5～100
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测试座 |
777A1056H102C |
Wells-CTI |
BGA56 0.8pitch 7*9mm |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
￥414.18 |
26~100套: |
￥390.20 |
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套
可订货：订货周期21天
可订量：5～100
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测试座 |
777E1048H205 |
Wells-CTI |
BGA48 0.8pitch 9*11mm |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
￥386.10 |
26~100套: |
￥363.29 |
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套
可订货：订货周期21天
可订量：5～100
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测试座 |
777A1048H111C |
Wells-CTI |
BGA48 0.8pitch 6.15*8.15mm |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
￥386.10 |
26~100套: |
￥363.29 |
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套
可订货：订货周期21天
可订量：5～100
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测试座 |
654H056629020857 |
Wells-CTI |
BGA56 0.8pitch 7*9mm |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
￥589.68 |
26~100套: |
￥551.65 |
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套
可订货：订货周期25天
可订量：5～100
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测试座 |
654H080636010857 |
Wells-CTI |
BGA80 0.8pitch 8*11.6mm |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
￥631.80 |
26~100套: |
￥592.02 |
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套
可订货：订货周期25天
可订量：5～100
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测试座 |
654-048628010806 |
Wells-CTI |
BGA48 0.8pitch 6*8mm |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
￥491.40 |
26~100套: |
￥457.47 |
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套
可订货：订货周期25天
可订量：5～100
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测试座 |
790-42048-101T |
Wells-CTI |
QFN48 0.5pitch(With GND PAD) |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
￥484.38 |
26~100套: |
￥450.74 |
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套
可订货：订货周期28天
可订量：5～100
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测试座 |
790-42048-101 |
Wells-CTI |
QFN48 0.5pitch |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
￥428.22 |
26~100套: |
￥396.92 |
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套
可订货：订货周期28天
可订量：5～100
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测试座 |
790-41044-101T |
Wells-CTI |
QFN44 0.5pitch(With GND PAD) |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
￥470.34 |
26~100套: |
￥437.29 |
更多请询价 |
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套
可订货：订货周期28天
可订量：5～100
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测试座 |
790-41044-101 |
Wells-CTI |
QFN44 0.5pitch |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
￥414.18 |
26~100套: |
￥383.47 |
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套
可订货：订货周期28天
可订量：5～100
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测试座 |
790-42040-101T |
Wells-CTI |
QFN40 0.5pitch(With GND PAD) |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
￥456.30 |
26~100套: |
￥423.83 |
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套
可订货：订货周期28天
可订量：5～100
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测试座 |
790-42040-101 |
Wells-CTI |
QFN40 0.5pitch |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
￥400.14 |
26~100套: |
￥370.01 |
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套
可订货：订货周期28天
可订量：5～100
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测试座 |
790-41036-101T |
Wells-CTI |
QFN36 0.5pitch(With GND PAD) |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
￥442.26 |
26~100套: |
￥410.38 |
更多请询价 |
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套
可订货：订货周期28天
可订量：5～100
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测试座 |
790-41036-101 |
Wells-CTI |
QFN36 0.5pitch |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
￥386.10 |
26~100套: |
￥356.56 |
更多请询价 |
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套
可订货：订货周期28天
可订量：5～100
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测试座 |
790-42032-101T |
Wells-CTI |
QFN32 0.5pitch(With GND PAD) |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
￥428.22 |
26~100套: |
￥396.92 |
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套
可订货：订货周期28天
可订量：5～100
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测试座 |
790-42032-101 |
Wells-CTI |
QFN32 0.5pitch |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
￥372.06 |
26~100套: |
￥343.10 |
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套
可订货：订货周期28天
可订量：5～100
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测试座 |
790-41028-101T |
Wells-CTI |
QFN28 0.5pitch(With GND PAD) |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
￥414.18 |
26~100套: |
￥383.47 |
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套
可订货：订货周期28天
可订量：5～100
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