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产品名称 |
产品型号 |
品牌/产地 |
封装/规格 |
产品描述 |
RoHS |
含税单价(元) |
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测试座 |
777E1137H101C |
Wells-CTI |
BGA137 0.8pitch 11*13mm |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
¥505.44 |
26~100套: |
¥470.92 |
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套
可订货:订货周期21天 可订量:5~100
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测试座 |
777E1115H203C |
Wells-CTI |
BGA115 0.8pitch 9*12mm |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
¥491.40 |
26~100套: |
¥457.47 |
更多请询价 |
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套
可订货:订货周期21天 可订量:5~100
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测试座 |
777E1080H112C |
Wells-CTI |
BGA80 0.8pitch 8*11.6mm |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
¥449.28 |
26~100套: |
¥417.10 |
更多请询价 |
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套
可订货:订货周期21天 可订量:5~100
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测试座 |
777A1056H102C |
Wells-CTI |
BGA56 0.8pitch 7*9mm |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
¥414.18 |
26~100套: |
¥390.20 |
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套
可订货:订货周期21天 可订量:5~100
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测试座 |
777E1048H205 |
Wells-CTI |
BGA48 0.8pitch 9*11mm |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
¥386.10 |
26~100套: |
¥363.29 |
更多请询价 |
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套
可订货:订货周期21天 可订量:5~100
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测试座 |
777A1048H111C |
Wells-CTI |
BGA48 0.8pitch 6.15*8.15mm |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
¥386.10 |
26~100套: |
¥363.29 |
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套
可订货:订货周期21天 可订量:5~100
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测试座 |
654H056629020857 |
Wells-CTI |
BGA56 0.8pitch 7*9mm |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
¥589.68 |
26~100套: |
¥551.65 |
更多请询价 |
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套
可订货:订货周期25天 可订量:5~100
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测试座 |
654H080636010857 |
Wells-CTI |
BGA80 0.8pitch 8*11.6mm |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
¥631.80 |
26~100套: |
¥592.02 |
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套
可订货:订货周期25天 可订量:5~100
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测试座 |
654-048628010806 |
Wells-CTI |
BGA48 0.8pitch 6*8mm |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
¥491.40 |
26~100套: |
¥457.47 |
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套
可订货:订货周期25天 可订量:5~100
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测试座 |
790-42048-101T |
Wells-CTI |
QFN48 0.5pitch(With GND PAD) |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
¥484.38 |
26~100套: |
¥450.74 |
更多请询价 |
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套
可订货:订货周期28天 可订量:5~100
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测试座 |
790-42048-101 |
Wells-CTI |
QFN48 0.5pitch |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
¥428.22 |
26~100套: |
¥396.92 |
更多请询价 |
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套
可订货:订货周期28天 可订量:5~100
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测试座 |
790-41044-101T |
Wells-CTI |
QFN44 0.5pitch(With GND PAD) |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
¥470.34 |
26~100套: |
¥437.29 |
更多请询价 |
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套
可订货:订货周期28天 可订量:5~100
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测试座 |
790-41044-101 |
Wells-CTI |
QFN44 0.5pitch |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
¥414.18 |
26~100套: |
¥383.47 |
更多请询价 |
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套
可订货:订货周期28天 可订量:5~100
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测试座 |
790-42040-101T |
Wells-CTI |
QFN40 0.5pitch(With GND PAD) |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
¥456.30 |
26~100套: |
¥423.83 |
更多请询价 |
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套
可订货:订货周期28天 可订量:5~100
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测试座 |
790-42040-101 |
Wells-CTI |
QFN40 0.5pitch |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
¥400.14 |
26~100套: |
¥370.01 |
更多请询价 |
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套
可订货:订货周期28天 可订量:5~100
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测试座 |
790-41036-101T |
Wells-CTI |
QFN36 0.5pitch(With GND PAD) |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
¥442.26 |
26~100套: |
¥410.38 |
更多请询价 |
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套
可订货:订货周期28天 可订量:5~100
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测试座 |
790-41036-101 |
Wells-CTI |
QFN36 0.5pitch |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
¥386.10 |
26~100套: |
¥356.56 |
更多请询价 |
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套
可订货:订货周期28天 可订量:5~100
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测试座 |
790-42032-101T |
Wells-CTI |
QFN32 0.5pitch(With GND PAD) |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
¥428.22 |
26~100套: |
¥396.92 |
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套
可订货:订货周期28天 可订量:5~100
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测试座 |
790-42032-101 |
Wells-CTI |
QFN32 0.5pitch |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
¥372.06 |
26~100套: |
¥343.10 |
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套
可订货:订货周期28天 可订量:5~100
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测试座 |
790-41028-101T |
Wells-CTI |
QFN28 0.5pitch(With GND PAD) |
用于芯片的低频(低于100Mhz)测试,老化试验测试,烧录开发的插座 |
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| 5~25套: |
¥414.18 |
26~100套: |
¥383.47 |
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套
可订货:订货周期28天 可订量:5~100
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